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PROGRAM BACKGRAM

针对巨量像素和微小像素间距导致的像素级亮色度高精度测量与Mura缺陷校正存在的问题，开展误差补偿与智能校正方法研究。光学误差是影响Mini/MicroLED直显屏亮色度测量精度的主要因素。为了达到像素级亮度色度的高精度测量，应结合LED显示屏的发光特性与采集设备的光学缺陷建立光学传递误差模型并对亮度色度测量数据进行修正。由于巨量像素使得无法对LED芯片进行逐一筛选，导致各个芯片亮色度均匀性不一致，故显示模块及显示屏在使用之前都必须进行Mura校正。目前，业内的Mura校正是在显示屏法线方向及特定图像亮度下进行，当视角和图像亮度偏离校正条件时，显示屏会出现Mura缺陷。此外，由于LED三基色芯片衰退规律及工作环境不同，其光衰特性也各不相同，造成校正后的显示屏随着时间的推移也会产生Mura，严重影响观看效果。

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